SID4 XHR wavefront sensor

SID4 XHR Capteur de front d'onde

Plage spectrale VIS - NIR (400 - 1100 nm)

SID4 XHR – Capteur de front d'onde à ultra-haute résolution. Capteur de front d'onde à très haute résolution.

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Grande ouverture : 38,64 × 27,60 mm²
Échantillonnage de phase extrêmement élevé : 1400 × 1000
Achromatisme

SID4 XHR Capteur de front d'onde

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Informations techniques

Wavelength range400 - 1100 nm
Aperture dimension38.64 x 27.60mm²
Spatial resolution1400 x 1000
Phase sampling27.6 µm
Phase resolution6 nm RMS
Dimensions114 x 105 x 110 mm
Weight~1kg

Description

Le SID4 XHR est un capteur de front d'onde à très haute résolution, doté d'une grande ouverture, conçu pour les applications avancées de métrologie optique et laser. Il associe une intégration simple à une large surface active et à un échantillonnage de phase de 1400 × 1000 points, permettant des mesures en temps réel sur l'ensemble du champ de grands composants optiques, de faisceaux élargis et de systèmes à large champ.

Optimisé pour l'inspection de surfaces, la détection de défauts à haute fréquence spatiale et la caractérisation de composants optiques, le SID4 XHR répond aux besoins d'applications portant sur les lentilles, les objectifs, ainsi que les optiques asphériques et à forme libre.

Documentation