Exosens développe des solutions avancées de métrologie pour les lasers, les optiques et les systèmes optiques. Ces solutions sont conçues pour mesurer, analyser et accompagner l’alignement des systèmes optiques avec une grande fiabilité. S’appuyant sur une expertise approfondie en mesure de front d’onde, Exosens propose des instruments haute performance pour la qualification des composants et systèmes optiques, la mesure laser et le contrôle d’optique adaptative à l’aide de miroirs déformables. Exosens propose également des caméras avancées d’imagerie quantitative de phase (QPI) offrant des capacités dédiées à la caractérisation avancée des matériaux et au traitement laser-matière. En savoir plus sur nos offres dans le domaine de la Métrologie laser & optique ↓
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Voir tous les produits exosensTechnologies avancées de mesure de front d’onde
Exosens propose des solutions de mesure de front d’onde de référence basées sur la technologie brevetée Quadriwave Lateral Shearing Interferometry (QWLSI). En offrant des mesures achromatiques haute résolution sur une large plage spectrale — du DUV à la technologie d’imagerie infrarouge thermique (LWIR) — nos instruments de métrologie de front d’onde permettent la qualification précise de composants optiques complexes, de systèmes optiques et de lasers. Conçus pour une intégration fluide et des performances robustes en laboratoire comme en environnement de production, les outils de métrologie Exosens simplifient l’alignement, la caractérisation et l’optimisation des systèmes photoniques de nouvelle génération.
Au service des tests optiques, de la métrologie laser et de l’imagerie des matériaux
Exosens propose des solutions de pointe pour un large éventail de paramètres de mesure critiques, notamment :
• Erreur de front d’onde transmise (TWE/WFE) : mesures de haute précision pour la qualification des systèmes optiques.
• Fonction de transfert de modulation (MTF) : analyse complète des performances d’imagerie optique.
• Erreur de front d’onde réfléchie (RWE) & profilométrie de surface : caractérisation précise de la forme des surfaces.
• Analyse de faisceau laser : mesure en temps réel des aberrations de front d’onde, des profils d’intensité et des paramètres de qualité du faisceau (M2, taille de waist, position, etc.).
• Cartographie d’indice de réfraction : imagerie quantitative de phase avancée pour l’analyse de l’homogénéité des matériaux et la validation des procédés.
Les solutions Exosens sont utilisées sur l’ensemble de la chaîne de valeur photonique : des matériaux et composants à l’intégration système, l’alignement et la validation finale :
• Mesure et qualification des systèmes laser : caractérisation complète des faisceaux laser et qualification des systèmes afin de garantir des performances optimales.
• Optique adaptative & contrôle de faisceau : correction et optimisation en temps réel du front d’onde grâce à l’optique adaptative et au contrôle des miroirs déformables.
• Contrôle qualité des composants optiques : tests haute précision des composants optiques, incluant les aberrations de front d’onde, la forme de surface, la RWE et la TWE.
• Tests et alignement système : analyse détaillée en temps réel du Wavefront Error (WFE), décomposition en polynômes de Zernike et MTF, afin de soutenir les processus d’alignement et de qualification finale des lentilles, objectifs et assemblages optiques complexes.
• Inspection des matériaux et analyse de l’indice de réfraction : caractérisation avancée des guides d’onde, couches minces et nanostructures.
Ces applications répondent aussi bien aux besoins de la R&D qu’aux processus de production, garantissant des performances élevées, un contrôle qualité rigoureux et une optimisation maîtrisée des systèmes.
Conçues pour la polyvalence et l’intégration
Exosens développe des solutions de métrologie de front d’onde compactes, achromatiques et insensibles aux vibrations, compatibles avec une large plage de longueurs d’onde allant du DUV à la technologie d’imagerie infrarouge thermique (LWIR).
Nos systèmes sont conçus pour offrir une flexibilité maximale, allant de capteurs autonomes à des plateformes entièrement intégrées :
• Capteurs de front d’onde autonomes : capteurs de front d’onde SID4 haute performance pour une utilisation flexible et plug-and-play.
• Configurations modulaires : configurations adaptables répondant à des besoins spécifiques, incluant KALAS pour les tests laser et Kaleo Kit pour l’optique et l’assemblage.
• Systèmes entièrement intégrés et automatisés : solutions de métrologie clé en main pour la qualification sur ligne de production, telles que Kaleo MTF.
• Solutions conçues sur mesure : systèmes développés spécifiquement pour répondre aux exigences particulières des clients.
Ces capacités permettent aux utilisateurs d’adapter les systèmes de mesure à l’évolution des besoins et à des configurations de test variées.
Offrir précision, analyse et performance
Les solutions de métrologie Exosens sont conçues pour fournir des informations exploitables sur les performances optiques :
• caractérisation précise et répétable des aberrations optiques et des performances système.
• amélioration du contrôle qualité dans les procédés de fabrication.
En permettant une analyse quantitative et précise des fronts d’onde et des propriétés optiques, Exosens accompagne ingénieurs, chercheurs et industriels dans l’amélioration des performances des systèmes et le développement des technologies photoniques.